FUNDAMENTOS DE METROLOGIA CIENTIFICA E INDUSTRIAL - REVISADA, ATUALIZADA E

Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.